特殊需求高密度晶片檢測

目前針對發展遲緩、自閉症或多發性外表異常個體的研究，已發現有些染色體區域的缺失或增幅，會造成個體出現上述相關的症狀。為協助醫師確定相關病徵是否因染色體微缺失(微增幅)造成，可藉由進行高密度探針晶片檢測協助醫師做為判斷的參考。

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